По всем вопросам звоните:

+7 495 274-22-22

Разработка технологии магнитопорошкового контроля для дефектов с малым раскрытием

Стаднюк Е.И. Томский политехнический университет
Научный руководитель: И.И. Толмачев канд. техн. наук, доцент, Томский политехнический университет

В статье рассматриваются параметры образцов, которые необходимы для выявления дефектов с малым раскрытием (менее 2 мм) при проведении магнитнопорошкового контроля. Определены параметры широховатости, с помощью которых при использовании магнитопорошкового контроля дефектоскописты могли обнаруживать микродефекты.

Литература:

1. Толмачев И.И. Физические основы и технология магнитопорошкового контроля: Учеб. пособие. — Томск: Изд. TПY, 2008. — 124 с.

2. Каневский И.Н. Неразрушающие методы контроля: Учеб. пособие / И.Н. Каневский, Е. Н. Сальникова. — Владивосток: Издво ДВГТУ, 2007. — 243 с.

3. ГОСТ 21105–87. Контроль неразрушающий. Магнитопорошковый метод.

4. РД-13‑05‑2006. Методические рекомендации о порядке проведения магнитопорошкового контроля технических устройств и сооружений, применяемых и эксплуатируемых на опасных производственных объектах.

5. Справочник. Неразрушающий контроль: В 8 т. / Под общ. ред. В. В. Клюева. В.А. Анисимов, Б.И. Каторгин, А.Н. Куценко и др. Акустическая тензометрия. Кн. 2: Г. С. Шелихов. Магнитопорошковый метод контроля. Кн. 3: М. В. Филинов. Капиллярный контроль. 2‑е изд., испр. — М.: Машиностроение, 2006. — 736 с.

Разработано и опубликовано достаточное количество методик, методических пособий, технологических рекомендаций по магнитопорошковому контролю. Однако технологии проведения магнитопорошкового контроля для дефектов с малым раскрытием (менее 2 мкм) в настоящее время не существует. Не определены, соответственно, и параметры технологии контроля.

Многие авторы утверждают, что данным видом контроля возможно обнаружение дефектов от 1 мкм, но требования к состоянию поверхности нигде не указаны. Для подтверждения данного явления и определения параметров контроля были поставлены следующие задачи: обнаружить микродефект с помощью магнитопорошкового контроля; привести новое, более точное разделение по уровням чувствительности; привести рекомендации к повышению чувствительности при магнитопорошковой дефектоскопии.

В опыте контролю подверглись три образца, № 1, 2 и 3.

Установив соответствующие параметры (режим и ток намагничивания), провели контроль. Образец № 1 подвергли циркулярному намагничиванию (пропускание тока lc = 1,4 кА по всему изделию) электроконтактами. Контроль осуществили способом остаточной намагниченности. Образцы № 2 и 3 были намагничены продольно с применением гибкого кабеля. Их контроль проводили также способом остаточной намагниченности. В качестве применяемой аппаратуры использовали модульный дефектоскоп МД-М. Когда объекты контроля были намагничены, на их поверхность был нанесен магнитный индикатор мокрым способом в виде суспензии. В данном случае черная магнитная суспензия типа МИНК-030 фирмы «Гепал» была нанесена на объект контроля слабой струей, для того чтобы не смыть осевший порошок над несплошностью. В нашем случае трещины на всех образцах были обнаружены. Их индикаторные следы в виде ломаных линий различного направления с резким плотным осаждением магнитного порошка были видны невооруженным глазом.

Величина раскрытия дефекта в магнитопорошковой дефектоскопии безусловно связана с состоянием поверхности объекта контроля. Повышение уровня чувствительности, т. е. уменьшение величины раскрытия дефекта, возможно только в случае повышения класса обработки поверхности.

Для Цитирования:
Стаднюк Е.И., Научный руководитель: И.И. Толмачев, Разработка технологии магнитопорошкового контроля для дефектов с малым раскрытием. Современные методы технической диагностики и неразрушающего контроля деталей и узлов. 2020;3.
Полная версия статьи доступна подписчикам журнала
Язык статьи:
Действия с выбранными: