По всем вопросам звоните:

+7 495 274-22-22

УДК: 621.38

Конструкторско-технологические особенности приборов IGBT

Шульга Р. Н. канд. техн. наук, ВЭИ – филиал ФГУП «РФЯЦ – ВНИИТФ им. акад. Е. И. Забабахина», г. Москва

Рассмотрены структура и характеристики кристалла (ячейки) прибора IGBT. Исследуются варианты оптимизации ячеек с разной технологией: планарной (РТ), тренч- (канавочной), IEGT, CSTBT, SPT+. Для приборов IGBT с «биполярной» проводимостью необходимо оптимальное сочетание падения напряжения во включенном состоянии и энергии коммутационных потерь при максимальном (или заданном) значении блокирующего напряжения, что требует выбора конструкции прибора в виде сочетания высокоомного и «коллекторных» слоев. В этой связи анализируются варианты сочетания «глубоких» слоев кристалла с учетом технологий: РТ, NPT, FS, SPT, а также вариации способов управления коэффициентом инжекции «нижнего» слоя в кристалле pn-перехода.

Литература:

1. Шульга Р.Н. Преобразовательные подстанции на IGBT-транзисторах // Электрооборудование: эксплуатация и ремонт. – 2021. – № 12. – С. 38–50.

2. Шульга Р.Н. Приборы на основе карбида кремния – основа преобразователей для электроэнергетики // Силовая электроника. – 2021. – № 6. – С. 50–54.

3. Шульга Р.Н. Приборы на основе нитрида галлия – основа для преобразователей напряжения и частоты // Силовая электроника. – 2021. – № 6. – С. 27–31.

4. Шульга Р.Н. Преобразователи напряжения малой и большой мощности // Электрооборудование: эксплуатация и ремонт. – 2022. – № 7. – С. 14–22.

5. Шульга Р.Н. Контроллеры DC/DC-конвертеров // Электрооборудование: эксплуатация и ремонт. – 2022. – № 6. – С. 21–30.

6. Шульга Р.Н. Специальные вопросы электрооборудования. Ч. 1. Контроллеры и преобразователи. – М.: НТФ «Энергопресс», 2023. – 90 с. [Библиотечка электротехника, приложение к журналу «Энергетик». Вып. 4 (292)].

7. Wintrich A., Nicolai U., Tursky W., Reimann T. Application Notes for IGBT and MOSFET modules // SEMIKRON International. – 2010.

8. Lehmann J., Netzel M., Pawel S., Doll Th. Method for Electrical Detection of End-of-Life Failures in Power Semiconductors // Semikron Elektronik GmbH.

9. Freyberg M., Scheuermann U. Measuring Thermal Resistance of Power Modules // PCIM Europe Journal. – 2003.

10. Thermal Considerations in the Application of Silicon Rectifier // IR Designer’s Manual. – 1991.

11. Calculation of the Maximum Virtual Junction Temperature Reached Under Shorttime or Intermittent Duty. IEC 60747-6 by SEMIKRON.

12. Schmitt G. Ansteurung von Hochvolt-IGBTs uber optimierte Gatestromprofile // Dissertation. – 2009.

13. Kaminski N. Leistungselektronik und Stromrichtertechnik 1 // Vorlesungsskript Universitat Bremen. – 2009.

14. Knipper U. Untersuchungen zur Robustheit von IGBT-Chips im Lawinendurchbruch Dissertation. – 2011.

15. Lutz J. Halbleiter-Leistungsbauelemente // Springer-Verlag. – 2006.

Силовые полупроводниковые приборы (СПП) существенно продвинули развитие новых технологий электротехники и электроники. Если в области диодов, тиристоров и фототиристоров отечественные приборы находятся на сопоставимом уровне с зарубежными, то наиболее перспективные разработки приборов IGBT для силовых преобразователей отечественного производства соответствуют 2-му поколению, в то время как зарубежные производители освоили поколение 7+. Это отставание обусловлено малой емкостью отечественного рынка, сложностью технологий, да и общим заветом 1990-х гг.: «проще и дешевле купить за рубежом». ВЭИ внесло несомненный вклад в разработку отечественных приборов СПП, а также их применения для электропередачи и электроприводов, но из-за структурных преобразований остались незавершенными многие направления и разработки.

Цель статьи состоит в систематизации известных конструкторско-технологических решений применительно к приборам IGBT. Библиография [1–3] освещает применение преобразователей на основе приборов IGBT, [4–6] связана с применением их в контроллерах и средствах автоматики. Литература [7–10] исследует особенности работы IGBT и диодов, а в [11–15] освещаются вопросы оптимизации конструкций IGBT. В Приложении дается расшифровка терминов применительно к компонентам СПП.

Биполярный транзистор с изолированным затвором (БТИЗ или IGBT) является полностью управляемым полупроводниковым ключом, структура и схема замещения которого приведена на рис. 1. На рис. 1 принимаются обозначения: CATHODE – катод (эмиттер), GATE – управляющий электрод (затвор – база), ANODE – анод (коллектор), N! drift – дрейфовый слой, P Well – р+-область носителей, Source – источник. Двойственность обозначений обусловлена гибридной структурой IGBT, которая представляет комбинацию MOSFET-транзистора и биполярного транзистора. Структура IGBT подобна структуре вертикального МОП-транзистора (DMOS-transistor), отличаясь тем, что вместо стокового приконтактного n-слоя сформирован эмиттерный слой р-типа проводимости. Накапливаемые в дрейфовом слое избыточные электроны снижают электрическое сопротивление слоя. Ток управления в базу транзистора доставляется через канал МОП-структуры. В результате в проводящем состоянии реализуется гибрид биполярного и МОП-транзистора, приведенный справа на рис. 1, причем силовой ток проводит биполярный транзистор, а управление реализуется как в МОП-транзисторе. В запертом состоянии за счет разрыва в цепи базы работа прибора соответствует работе биполярного р-n-р транзистора.

Для Цитирования:
Шульга Р. Н., Конструкторско-технологические особенности приборов IGBT. Электрооборудование: эксплуатация и ремонт. 2023;12.
Полная версия статьи доступна подписчикам журнала
Язык статьи:
Действия с выбранными: