Исследователи из Института органической химии им. Н. Д. Зелинского Российской академии наук (ИОХ РАН, г. Москва) под руководством заведующего лабораторией профессора Валентина Павловича Ананикова разработали эффективный метод визуализации дефектов на поверхности графена и других углеродных материалов, позволяющий за короткое время локализовать тысячи дефектов с помощью стандартной техники микроскопического исследования. Это важно для понимания физико-химических и механических свойств материалов и является одной из основных задач современных нанотехнологий.
Метод, предложенный учеными, основан на свойстве наночастиц металлов, которые избирательно адсорбируются по краям дефектов, в результате чего контуры дефектов «прочерчиваются» цепочками металлических наночастиц, и их видно в электронный микроскоп.
С помощью этого метода химикам удалось установить, что на поверхности углеродных материалов дефекты располагаются не хаотически, а образуют упорядоченные структуры.
Работа выполнена учеными с участием международного исследовательского коллектива, а ее результаты опубликованы в журнале Chemical Science Королевского химического общества Великобритании. Фото из этого журнала прдставлено на рис. 1.
О результатах своих исследований их авторы рассказали редакции Интенрнет-портала «Лента. ру», материал из которого приведен ниже.
Экспериментальные исследования свойств графена, проведенные в последнее десятилетие, спровоцировали настоящий «графеновый бум». В настоящее время исследования графена и других двумерных материалов на его основе можно условно выделить в отдельную область нанотехнологий.
Особенность графена — высокая подвижность носителей заряда. Графен отличается высочайшей теплопроводностью, электропроводностью и способностью изменять эти свойства в зависимости от модификации своей структуры и от природы внешних воздействий. Поэтому графен и его производные часто рассматриваются как перспективные компоненты современных электронных устройств и химических сенсоров.