Разработаны установки для определения
импульсной электрической прочности и
напряжения пробоя под воздействием
грозовых импульсов чип-конденсаторов.
Экспериментально получены функции
распределения указанных характеристик,
обнаружено, что функции распределения
соответствуют нормальному закону. Получены
осциллограммы тока и напряжения на
конденсаторах, а также зависимость емкости
и тангенса угла потерь от амплитудного
напряжения испытательного импульса.
Выполнен краткий анализ причин отказов
испытанных конденсаторов. Выделены
основные возможные причины отказа
чип-конденсаторов, представлены
предварительные оценки по каждой из
потенциальных причин отказа. Полученные
результаты лягут в основу разработки
методики предварительной оценки ИЭП
чип-конденсаторов.