По всем вопросам звоните:

+7 495 274-22-22

УДК: 621.391

Технология изготовления полупроводниковых интегральных микросхем

Детков Р. А. е-mail: romandetkov2004@gmail.com, Московский государственный технический университет имени Н. Э. Баумана, 105005, Москва, 2-я Бауманская ул., д. 5

В статье рассмотрены основные компоненты интегральных микросхем: подложки, транзисторов, проводников, изоляторов. Подробно описаны технологии их производства, включая фотолитографию, травление, диффузию и имплантацию. В статье уделено внимание химии процессов и используемых материалов, а также рассмотрены широкие области применения интегральных схем в различных отраслях промышленности. Статья предназначена для технологов по производству электроники, а также для студентов соответствующих специальностей.

Литература:

1. Аброскин, А. С., Гурьянова, А. В. Технология изготовления полупроводниковых интегральных микросхем // Мировая наука. — 2020. — №1 (46). URL: https://cyberleninka.ru/article/n/algoritmy-interpolyatsii-v-tsifrovyh-zapominayuschih-ostsillografah (дата обращения: 31.05.2024).

2. Резанов, Е. В., Максимова, М. Г. Химические основы производства интегральных микросхем // Вестник магистратуры. — 2018. — №4 (79) URL: https://cyberleninka.ru/article/n/himicheskie-osnovy-proizvodstva-poluprovodnikovyh-integralnyh-mikroshem/viewer (дата обращения: 31.05.2024).

3. Алексеева, Н. И. Перспективные направления полупроводниковой наноэлектроники // Омский научный вестник. — 2010. — №2 (90) URL: https://cyberleninka.ru/article/n/perspektivnye-napravleniya-poluprovodnikovoy-nanoelektroniki/viewer (дата обращения: 31.05.2024).

4. Алешинцев, А. В., Холодков, П. А. Обзор технологических норм производства транзисторов // T-Comm #10–2010 URL: https://cyberleninka.ru/article/n/obzor-tehnologicheskih-norm-proizvodstva-tranzistorov (дата обращения: 31.05.2024).

5. Бритиков, Ф. О. Технология производства полупроводниковых приборов и интегральных микросхем // Science Time. — 2016. URL: https://cyberleninka.ru/article/n/tehnologiya-proizvodstva-poluprovodnikovyh-priborov-i-integralnyh-mikroshem (дата обращения: 31.05.2024).

Производство полупроводниковых интегральных микросхем — это сложный процесс, который позволяет создавать мощные электронные компоненты, используемые во множестве устройств, — от компьютеров и мобильных телефонов до аппаратуры спутниковой связи и медицинских устройств. Этот процесс требует высокой точности и тщательной работы с использованием специализированных технологий, включая фотолитографию, металлизацию и формирование элементов микросхемы. Введение в технологию производства полупроводниковых интегральных микросхем позволит лучше понять основные этапы процесса и их цель, а также увидеть важность данной технологии в нашей современной технической жизни.

Цель работы — рассмотреть основные этапы производства полупроводниковых интегральных микросхем и проанализировать перспективные направления развития технологии производства микросхем.

В интегральных микросхемах (ИМ) присутствуют четыре основных компонента: полупроводники, резисторы, диоды и транзисторы.

Полупроводники — обеспечивают проводимость электрического тока через микросхему, причем их проводимость изменяется с температурой.

Транзисторы — управляют потоком тока в цепи, усиливая или переключая его, что позволяет компьютерам обрабатывать данные. Биполярные транзисторы являются основными компонентами полупроводниковых ИМ. Важно, чтобы структура активных зон транзисторов обеспечивала оптимальные электрические характеристики. Основными параметрами электрофизики активных зон биполярных транзисторов являются концентрации легирующих атомов, подвижность электронов и дырок, а также диэлектрическая проницаемость исходного полупроводникового материала [1].

Диоды пропускают ток только в одном направлении, что позволяет им выполнять роль переключателей и интерпретировать информацию в двоичном виде. Поэтому диоды ИМ чаще всего используют в качестве выпрямителей, т. е. элементов, обладающих однонаправленной проводимостью. В интегральных микросхемах диоды обычно создаются не как отдельные элементы, а путем использования различных схем включения биполярных транзисторов. Паразитный транзистор в диодах ИМ имеет низкий коэффициент передачи тока 1…3, поэтому его влияние незначительно при малых токах. Необходимо учитывать максимально допустимое обратное напряжение для разных вариантов построения диодов, чтобы избежать пробоя переходов. В ИМ также применяются стабилитроны (опорные диоды) для стабилизации напряжения. Для стабилизации до 10 В используется эмиттерный переход транзистора в режиме электрического пробоя. Для стабилизации более высоких напряжений используется транзистор с оборванной базой в режиме лавинного пробоя коллекторного перехода.

Для Цитирования:
Детков Р. А., Технология изготовления полупроводниковых интегральных микросхем. Главный механик. 2024;9.
Полная версия статьи доступна подписчикам журнала
Язык статьи:
Действия с выбранными: