По всем вопросам звоните:

+7 495 274-22-22

УДК: 681.3

Технология изготовления полупроводниковых интегральных микросхем

Сарафанников В. В. студент, Московский государственный технический университет имени Н. Э. Баумана, Москва
Наумов Д. Н. студент, Е-mail: paperlizard@yandex.ru, Московский государственный технический университет имени Н. Э. Баумана, Москва

В статье рассматриваются основные этапы и методы изготовления полупроводниковых интегральных микросхем (ИМС), начиная с традиционной планарной технологии и фотолитографии и заканчивая современными инновационными подходами. Описываются ключевые материалы, процессы и оборудование, используемые в производстве ИМС, а также анализируются перспективы развития данной области.

Литература:

1. Третьяков, С. Д. Современные технологии производства радиоэлектронной аппаратуры: учеб. пособие / С. Д. Третьяков; ИТМО. — Санкт-Петербург: Изд-во ИТМО, 2016. — 102 с.

2. Горбачев, Г. Н., Чаплыгин, Е. Е. Промышленная электроника: учебник для вузов / Под ред. В. А. Лабунцова. — М.: Энергоатомиздат, 1988. — 320 с.

3. Миловзоров, О. В. Основы электроники: учебник для СПО / О. В. Миловзоров, И. Г. Панков. — 5-е изд., перераб. и доп. — М.: Издательство Юрайт, 2016. — 407 с. — Серия: Профессиональное образование. ISBN 978-5-9916-5351-0.

4. ГОСТ Р 57435–2017. Микросхемы интегральные.

В современном информационном обществе полупроводниковые интегральные микросхемы (ИМС) играют решающую роль в функционировании широкого спектра устройств, начиная от бытовой электроники и заканчивая высокотехнологичными системами авиационной и космической промышленности. Постоянное увеличение требований к производительности, функциональности, надежности и миниатюризации электронных устройств создает постоянную потребность в развитии новых технологий и методов производства ИМС [1].

Полупроводниковые интегральные микросхемы представляют собой сложные электронные системы, состоящие из множества элементов, таких как транзисторы, диоды, резисторы и конденсаторы, интегрированных на кристаллической подложке. Изготовление таких микросхем является многопроцессным и требует применения различных методов и технологий, каждая из которых играет ключевую роль в формировании структурных элементов и электрических характеристик микросхемы. Основной целью данной статьи является рассмотрение современных методов и технологий изготовления полупроводниковых интегральных микросхем, их преимуществ и недостатков, а также перспектив развития данной области [2].

Технология изготовления полупроводниковых интегральных микросхем является сложной и многоэтапной. Она включает в себя проектирование, изготовление и тестирование микросхем. Проектирование микросхем включает в себя разработку топологии, которая определяет расположение элементов на кристалле. Топология разрабатывается с использованием специализированного программного обеспечения. Изготовление микросхем включает в себя несколько этапов, таких как выращивание кристалла, литография, травление, диффузия и металлизация. Каждый этап имеет свои особенности и требует использования специального оборудования. Тестирование микросхем проводится для проверки их работоспособности и соответствия требованиям. Тестирование может быть функциональным, электрическим или физическим. Современные тенденции в технологии изготовления полупроводниковых интегральных микросхем включают в себя увеличение плотности элементов на кристалле, использование новых материалов и методов обработки, а также автоматизацию производства [1, 3]. Перспективы развития технологии изготовления полупроводниковых интегральных микросхем связаны с дальнейшим увеличением плотности элементов, использованием новых материалов и методов обработки, а также разработкой новых технологий производства.

Для Цитирования:
Сарафанников В. В., Наумов Д. Н., Технология изготовления полупроводниковых интегральных микросхем. Электроцех. 2024;8.
Полная версия статьи доступна подписчикам журнала
Язык статьи:
Действия с выбранными: