Для высокоответственных поверхностей ГОСТ 2789−73 предусматривает шесть параметров (Ra, Rz, Rmax, Sm, S и tp) нормирования шероховатости и типы направления микронеровностей, наиболее удовлетворяющие их функциональному назначению. Однако в ГОСТе и дополнениях к нему не говорится о наклонном типе направления микронеровностей, который по ряду технических характеристик, например, износостойкости и качеству покрытий, приближается к перекрещивающемуся. Исходя из функционального анализа основных поверхностей деталей разного назначения, возникает необходимость в конструкторско-технологическом обеспечении наклонного типа микронеровностей с оптимальными числовыми параметрами шероховатости и углом наклона рисок обработки.
Некоторые качественные и количественные показатели шероховатости поверхностей с наклонным направлением микронеровностей были установлены при экспериментальных исследованиях валков 20-валкового прокатного стана 1200 СКМЗ и тонколистового проката трансформаторной стали в лабораторных и производственных условиях [1, 2]. Для лабораторных исследований были изготовлены образцы из рабочих валков диаметром 55 мм из стали 9ХС с твердостью поверхности 64−66 HRCэ. Образцы обрабатывали на модернизированном круглошлифовальном станке [3] торцом чашечного эльборового круга при разных смещениях линии реза круга относительно оси образца, что позволило получить на поверхностях образцов шероховатость с перпендикулярным, перекрещивающимся, параллельным и наклонным направлением микронеровностей. Триботехнические испытания образцов проводили на машине трения СМЦ-2 при трении качения с проскальзыванием.
Числовые параметры шероховатости исследуемых поверхностей определяли с помощью профилографа-профилометра 252 завода «Калибр». Качество поверхностей исследовали на растровом электронном микроскопе РЭМ-200. По полученным фотографиям обработанной поверхности исследовали такие показатели, как несплошности и вырывы металла, наплывы, неметаллические включения, а также определяли направление рисок обработки и изменение параметров шероховатости в процессе эксплуатации. Для исследования микротопографии образцов, обработанных по различным схемам, на РЭМ-200 проводили фотосъемку в режиме высотной модуляции в направлении оси образца и перпендикулярно к ней.