В число неразрушающих испытаний изоляции высоковольтного оборудования, наряду с широко распространенными измерениями тангенса угла диэлектрических потерь и абсорбционных характеристик, входит определение характеристик частичных разрядов (ЧР) [1].
Практически в любом высоковольтном оборудовании в рабочих режимах существуют ЧР, однако их разрушающая способность может различаться. При длительной эксплуатации высоковольтного оборудования, в связи воздействием на его изоляцию внешних факторов, в диэлектрике возникают дефекты, приводящие к появлению частичных разрядов [2].
Органическая изоляция всех видов интенсивно разрушается как самими ЧР, так и побочными продуктами их действия. В конечном итоге воздействие ЧР приводит к развитию дефекта и пробою всей изоляции [3, 4].
Диагностика частичных разрядов в настоящее время испытывает трудности в связи с отсутствием объективных методов их обнаружения. Поэтому вопрос по диагностированию частичных разрядов является достаточно актуальным. В связи, с этим нами была предпринята попытка разработки нового метода при помощи подачи импульсанапряжения с крутым фронтом.
За основу была принята схема, предложенная в [5]. Схема состоит из источника постоянного тока типа УИП-2, искрового воздушного коммутатора, накопительного импульсного конденсатора ИК-100-0,1, испытуемого конденсатора (объект), шунта сопротивлением 11,104 мОм, осциллографа Tektronix типа TDS 1012B с полосой 100 МГц.
Принцип работы схемы. Через первое положение, с помощью источника регулируемого напряжения, происходит зарядка импульсного конденсатора, при этом подаваемое напряжение намного ниже предполагаемого напряжения возникновения разряда и постепенно поднимается. Для контроля над подаваемым напряжением используется вольтметр, который устанавливается параллельно источнику напряжения. Путем переключения ключа во второе положение происходит разрядка импульсного конденсатора на испытуемый объект. Фиксация формы тока производится с шунта при помощи осциллографа TDS 1012B, полученные данные сохраняются на персональном компьютере (рис. 1).