Предпосылками для разработки нового метода неразрушающего контроля послужили результаты исследований поведения карбонитридного ядерного топлива под облучением с применением электрических методов. Исследования были проведены в конце 1980-х годов. После опубликования результатов в журнале J. of Nuclear Materials работы по созданию электрофизического метода неразрушающего контроля (ЭФК) стали проводиться более интенсивно, и решением заведующего кафедрой конструирования приборов и установок профессора В. М. Баранова и его заместителя доцента Н.А. Евстюхина в 2003 году на кафедре была организована лаборатория функциональной электрофизической диагностики и неразрушающего контроля (ElphysLAB), руководителем которой был назначен автор этой статьи.
Поэтому, когда нас спрашивают, надежно ли будет работать метод в условиях радиационных полей и высокой температуры, мы отвечаем утвердительно: гарантией тому служат наши результаты и те уникальные измерительные технологии, которые не потеряли своей актуальности до настоящего времени.
Разработанные технологии для внутриреакторных исследований ядерного топлива были впоследствии перенесены в лабораторные условия для изучения прочностных и пластических свойств материалов и изделий.
В процессе работы был применен новый физический подход к проблеме возникновения электрического контакта материалов с металлическим характером проводимости. При создании высокоэффективной информационно-измерительной системы и программно-аналитических комплексов применялись современные достижения IT-технологий.
Метод сканирующей контактной потенциометрии (СКП) опирается на следующие базовые положения и модели:
— на поверхности твердого тела, находящегося под нагрузкой, происходят процессы образования динамической волнистости и динамической шероховатости;
— электрический контакт образца с датчиком представлен квантовым объектом, в котором под нагрузкой происходит снятие вырождения энергетических уровней электронов, динамическое изменение поверхностного дипольного барьера на границе контакта и работы выхода электронов;