По всем вопросам звоните:

+7 495 274-22-22

УДК: 621.3.011.72

Исследование двойственности коммутационных процессов полупроводниковых транзисторных ключей при работе на реактивную нагрузку

Бородин Д. Б. аспирант, Томский государственный университет систем управления и радиоэлектроники, г. Томск
Тюнин С. С. аспирант, Томский государственный университет систем управления и радиоэлектроники, г. Томск
Винтоняк Н. П. канд. техн. наук, мл. науч. сотрудник, Томский государственный университет систем управления и радиоэлектроники, г. Томск
Семёнов В.Д. канд. техн. наук, профессор, Томский государственный университет систем управления и радиоэлектроники, г. Томск

В данной статье представлено математическое описание процессов, протекающих в полупроводниковых транзисторных ключах при работе на реактивную нагрузку. Коммутация ключей осуществляется с помощью управляемых источников напряжения или тока. Представлены имитационные модели ключевых элементов и диаграммы их работы на реактивную нагрузку, при их коммутации изменяемым сопротивлением.

Литература:

1. Уильямс Б. Силовая электроника: приборы, применение, управление. Справочное пособие: пер. с англ. – М.: Энергоатомиздат, 1993, – 240 с.: ил. ISBN 5-283-02499-7.

2. Бородин Д.Б., Семёнов В.Д. Коммутационные процессы в транзисторе при работе на активно-индуктивную нагрузку без нулевого диода. Материалы Международной научно-технической конференции студентов, аспирантов и молодых ученых «Научная сессия ТУСУР-2016». – Томск, 2016. – Ч. 2. – С. 191–195.

3. Бородин Д.Б., Семёнов В.Д. Коммутационные процессы в транзисторе при работе на активно-емкостную нагрузку. Итоги научно-исследовательских работ и курсового проектирования студентов кафедры промышленной электроники: материалы ежегодной научно-практической конференции / Под ред. канд. техн. наук В.Д. Семёнова. – Томск: ТУСУР, 2016. – Вып. 9. – С. 63–68.

4. Бородин Д.Б., Семёнов В.Д. Дуальность процессов переключения силовых ключей при работе на активно-индуктивную и активно-емкостную нагрузку. Перспективы развития фундаментальных наук [Электронный ресурс]. – Режим доступа: http://science-persp. tpu.ru/Arch/Proceedings_2017_vol_7.pdf // Сб. трудов XIV Международной конференции студентов, аспирантов и молодых ученых. Россия, Томск, 25–28 апреля 2017 г. / Под ред. И.А. Курзиной, Г.А. Вороновой. – Томск: Изд-во Национального исследовательского Томского политехнического университета, 2017. – 137 с.

При активной нагрузке силовых транзисторов широко используется простая модель переключения с линейным изменением тока и напряжения на интервалах переключения [1], что удовлетворительно отражает картину переключения. Однако чисто активной нагрузки при высоких скоростях переключения транзисторов не бывает из-за собственной емкости С транзистора (рис. 1, б) и индуктивности L подводящих проводов (рис. 1, а).

Тем не менее, интерес к аналитическим моделям переключения силовых транзисторов велик потому, что они качественно верно отражают процесс этого переключения и позволяют получить простые и достаточно точные количественные оценки.

В работах [2, 3] получены простые аналитические соотношения, позволяющие оценить динамические потери, сверхтоки и перенапряжения при переключении транзисторов с учетом собственных емкостей и индуктивностей соединительных проводов.

В настоящей статье ставится и решается задача проверки адекватности этих аналитических моделей и областей их применения

Для исследования работы транзистора на реактивную нагрузку предложены схемы, имитирующие коммутацию источника питания Е на выбранный тип нагрузки с помощью транзисторного ключа VT [2, 3]. Схемы представлены на рис. 1.

Основная идея исследования коммутационных процессов в транзисторных ключах, работающих на реактивную нагрузку, заключается в оценке и анализе динамических потерь в транзисторе, при работе на различные типы нагрузки, без учета собственных значений сопротивления ключа в открытом или закрытом состояниях и паразитных емкостей, влияющих на процессы включения и выключения транзистора. В работах [2, 3] представлены идеализированные диаграммы процессов переключения и выделяемой мощности транзисторного ключа без учета номинала элементов. Однако следует отметить, что некоторое изменение параметров реактивной нагрузки может изменить амплитуду или скорость изменения напряжения или тока в транзисторе, поэтому данное исследование проводится под определенные значения напряжения питания и параметров реактивной нагрузки. Параметры, используемые в схеме, представлены в табл. 1.

Для Цитирования:
Бородин Д. Б., Тюнин С. С., Винтоняк Н. П., Семёнов В.Д., Исследование двойственности коммутационных процессов полупроводниковых транзисторных ключей при работе на реактивную нагрузку. Электрооборудование: эксплуатация и ремонт. 2019;7.
Полная версия статьи доступна подписчикам журнала
Язык статьи:
Действия с выбранными: